Уомз 3Т2КП - теодолит оптический

ООО КОЭМЗ продает из наличия: Угломер оптический УО-2 производства Красногорского механического завода. Угломер оптический УО-2- универсальный прибор, предназначенный для измерения контактным методом углов от 0 до 180гр между двумя плоскостями или между плоскостью и образующей поверхностью цилиндра или конуса. Угломер оптический может ...

Головка оптическая ОГМЭ-П2 предназначена для наблюдения прямого и объемного изображения рассматриваемых предметов в отраженном свете и применяется в технологическом процессе изготовления микроэлектронных изделий, при работе со сварочными и другими установками при изготовлении и контроле микросхем.

Оптический плоскомер ОП-1 предназначен для контроля прямолинейности с VI и плоскостности с VII степени точности по ГОСТ поверхностей размером от 0.5 до 5 м, а также для контроля взаимного расположения поверхностей элементов конструкций при монтажных работах.

Длинномер вертикальный типа ИЗВ мод.1 предназначен для высокоточных измерений абсолютным методом.

we’re specialized in infrared optics windows 15 years, sapphire crystal (Max.220mm)that's widely used in barcode reader, probe, filter, bearing, endoscope and our advantage products. And the other optical materials are Germanium, Zinc Selenide, CaF2, MgF2, BaF2, Silicon, Fused Quartz.
Sapphire windows are used where chemical ...

КО-1, КО-30, КО-60 с хранения, в отличном состоянии

Оптическая линейка ОЛ-800 предназначена для определения отклонений от прямолинейности и плоскостности рабочих поверхностей поверочных линеек типа ШП, ШМ и ШД длиной 400 и 630 мм всех классов точности; поверочных и разметочных плит всех
классов точности и размеров, а также поверхностей направляющих станков и т. д.
Электрическое ...

Оптическая линейка предназначается для измерения отклонений от прямолинейности и плоскостности рабочих поверхностей поверочных линеек, плит всех классов точности и типоразмеров; поверхностей направляющих станков, образующих валов длиной
свыше 1000 мм. и пр.

Технические характеристики:
Пределы измеряемых отклонений ...